عملکرد تضعیف منبع نور قابل تنظیم باند CL 1525 ~ 1610 نانومتر

عملکرد تضعیف منبع نور قابل تنظیم باند U8112 CL 1525 ~ 1610 نانومتر

کاربرد

اندازه گیری با استفاده از سنسور فیبر نوری

هزینه اندازه گیری اجزای WDM، AWG، PLC.

اندازه گیری پراکندگی حالت قطبش خطی (PMD) و از دست دادن درون یابی قطبش (PDL).

اپتیکال اشعه ایکس، آزمایشگاهی برای اپتیک ارتباطات، کاربردهای اندازه گیری را توسعه می دهد.

سوالات متداول
س: آیا شما تولید کننده کارخانه هستید؟
A: بله ما تولید کننده با 13 سال تجربه در این صنعت هستیم و بسیاری از محصولات با کیفیت خوب را عرضه می کنیم.
س: بازار اصلی شما کجاست؟
A: آسیا، اروپا، آمریکا، خاورمیانه، آفریقا و سایر کشورها و مناطق.
س: حداقل مقدار سفارش شما (MOQ) چقدر است؟
A: به عنوان یک خط مشی استاندارد، ما MOQ 1set را می پذیریم و موارد ترکیبی موجود را می پذیریم، همچنان باید با فروش ما مطابق با خطوط تولید مختلف تأیید شود.
س: آیا می توانم اندازه و رنگ کیس را سفارشی کنم؟
ج: بله.ما می توانیم در مورد آن بحث کنیم.
س: آیا می توانم ابتدا چند نمونه را قبل از سفارشات اصلی بخرم؟آیا هزینه نمونه قابل استرداد است؟
A: بله، هزینه نمونه و هزینه حمل و نقل باید از قبل پرداخت شود.
س: مدت زمان تولید چقدر است؟
A: 5 روز برای محصولات موجودی، محصولات مختلف با توجه به وضعیت واقعی زمان تحویل متفاوتی دارند.